HAST高压加速老化试验箱可满足标准:
有IEC 60068-2-66、IEC 60749-4、JEITA ED-4701/100A方法103、JESD22-A118B 、JESD22-A102E、JESD22-A110E、AEC-Q100-Rev-H等等相关标准。
hast高压加速老化试验箱用于生产线路板、半导体器件、芯片、稀土、LED封装等产品bi备的检测设备。不同的产品试验条件不同,像半导体一般都是按IEC 60749-4的测试标就可以了,IEC 60749-4标准里有2种试验条件:
一. 湿度85%R.H,温度130℃,压力122KPA,持续时间296H,
二. 湿度85%R.H,温度110℃,压力230KPA,持续时间96H,
三.能满足的这2种试验条件只需用hast试验箱小型的就可以了
1.小型的hast高压加速老化试验箱参数如下:
2.型号:HAST-35
3.内部尺寸:¢350*450mm
4.外部尺寸:900*1350*1150mm
5.蒸汽湿度范围:70~100%R.H
6.使用蒸汽压力范围:0kg/c㎡~3kg/c㎡
7.蒸汽温度范围:100℃~145℃
8.设备容积:45L
原创作者:广东艾思荔检测仪器有限公司