半导体芯片PCT高压老化试验箱

艾思荔半导体芯片PCT高压老化试验箱试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST、现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC所标準化。 注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)。

半导体芯片PCT高压老化试验箱安全装置：

1、锅内安全装置：锅门若未关紧则机器无法启动。

2、安全阀：当锅内压力超过大工作值自动排气泄压。

3、双重过热保护装置：当锅内温度过高时，机器呜叫警

4、报并自动切断加热电源。

5、门盖保护：ABS材质制成可防止操作人员接触烫伤。

半导体芯片PCT高压老化试验箱试验：

1.试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

2.用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分佈函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的塬因所进行的试验。

3.随着半导体可靠性的提高，目大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，採用了新的压力试验方法。

半导体芯片PCT高压老化试验箱特点：

1、具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。

2、试验过程自动运转至完成结束，使用简便。

3、温度控制：LED数字型温度控制器可作精确试验温度之设定、控制及显示。

4、计时器：LED数字型计时器，当锅内温度到达後才开始计时以确保试验完全。

5、精准的压力／温度表随时显示锅内压力与相对温度。

6、运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到佳蒸气品质。

7、一体成型矽胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长。

8、试验箱内经抛光处理经久耐用美观不沾污。

半导体芯片PCT高压老化试验箱简介：

   半导体芯片PCT高压老化试验箱艾思荔检测仪器是业模拟检测设备的明星企业，生产历史长、技术精。为国内多家品牌测试设备厂所指定配套使用,建厂三十余年,备受好评。

更新时间：2024/4/17 8:22:22